酸化ハフニウム（HfO2） - ロド

特性

酸化ハフニウム（IV）は、式HfOの無機化合物です。₂。ハフニウムとしても知られるこの無色の固体は、ハフニウムの最も一般的で安定した化合物の1つです。バンドギャップが5.3〜5.7eVの電気絶縁体です。二酸化ハフニウムは、ハフニウム金属を生成するいくつかのプロセスの中間体です。

化学式：HfO₂

モル質量：210.49g / mol

外観：オフホワイトパウダー

密度：9.68g / cm³、固体

融点：2,758°C（4,996°F; 3,031 K）

沸点：5,400°C（9,750°F; 5,670 K）

水への溶解度：不溶性

磁化率（χ）：− 23.0・10⁻⁶CM³/ mol

応用

Hafniaは、光学コーティング、DRAMコンデンサ、および高度な金属酸化物半導体デバイスのHigh-κ誘電体として使用されます。

近年、酸化ハフニウム（およびドープされた酸素不足の酸化ハフニウム）は、抵抗スイッチングメモリおよびCMOS互換の強誘電性電界効果トランジスタ（FeFETメモリ）およびメモリチップの候補としてさらに関心を集めています。

融点が非常に高いため、ハフニアは熱電対などのデバイスの絶縁の耐火材料としても使用され、2500°Cまでの温度で動作できます。

建物のパッシブ冷却に使用するために、二酸化ハフニウム、シリカ、およびその他の材料の多層フィルムが開発されました。フィルムは太陽光を反射し、地球の大気を通過する波長で熱を放射し、同じ条件下で周囲の材料よりも数度低い温度になる可能性があります。